为了提高x射线密度测量的精度，研究了光电效应对x射线密度测井的影响。
首先，根据地层x射线衰减原理，利用XCOM程序，分析了地层x射线康普顿散射和光电效应的变化规律;
其次，在此基础上研究了光电效应对x射线密度测井的影响。
第三，提出了利用岩性窗口和密度窗口计数计算地层体积密度来校正光电效应的方法。
最后，通过MCNP仿真验证了该方法的有效性。
结果表明，光电效应是影响x射线密度测量精度的重要因素，x射线能量越低，光电效应对x射线密度测量的影响越大，密度测量精度越低。
由于Cs-137源释放的γ射线处于高能级，利用密度窗计数计算地层体积密度时，光电效应的影响基本可以忽略不计;相反，x射线源释放的x射线处于低能级，用x射线测量地层体积密度时，不能忽略光电效应的影响。
地层体积密度计算方法能有效消除光电效应的影响，测量精度达到0.01g/cm3左右，为x射线密度测井过程中准确测量密度提供了理论基础。
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